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簡(jiǎn)要描述：芯片高低溫測(cè)試機(jī)，制冷加熱裝置廠家的典型應(yīng)用：適用于電子元器件的溫度控制需求。 在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測(cè)試階段包括在溫度（-45℃至+ 250℃）下的電子冷熱測(cè)試和其他環(huán)境測(cè)試模擬。這些半導(dǎo)體器件和電子產(chǎn)品一旦投入實(shí)際應(yīng)用，就可以暴露在端環(huán)境條件下，滿足苛刻的軍事和電信可靠性標(biāo)準(zhǔn)。?
產(chǎn)品型號(hào)：TES-4525廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-01-05訪 問(wèn) 量：816| 品牌 | LNEYA/無(wú)錫冠亞 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,制藥/生物制藥 |
芯片高低溫測(cè)試機(jī)，制冷加熱裝置廠家
主要用于半導(dǎo)體測(cè)試中的溫度測(cè)試模擬，具有寬溫度定向和高溫升降，溫度范圍-92℃~250℃，適合各種測(cè)試要求.LNEYA致力于解決了電子元器件中溫度控制滯后的問(wèn)題，超高溫冷卻技術(shù)可以直接從300℃冷卻。
芯片高低溫測(cè)試機(jī)，制冷加熱裝置廠家
芯片高低溫測(cè)試機(jī)通用數(shù)字電路和接口電路的邏輯功能和靜態(tài)直流參數(shù)測(cè)試以及通用運(yùn)算放大器及電壓比較器的靜態(tài)直流參數(shù)測(cè)試，在微弱電壓、電流測(cè)試方面有良好的性能，適用于低失調(diào)和高阻等相同的測(cè)試。芯片高低溫測(cè)試機(jī)穩(wěn)壓器測(cè)試系統(tǒng)用于正壓、負(fù)壓、固定、可調(diào)三端集成穩(wěn)壓器參數(shù)的測(cè)試，采用四線測(cè)試原理，測(cè)試夾具全部采用原裝測(cè)試夾具，具有良好的測(cè)試精度。芯片高低溫測(cè)試機(jī)電磁繼電器介質(zhì)耐壓絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)用于電磁繼電器介質(zhì)耐壓和絕緣電阻等額的測(cè)試，測(cè)試貫注符合要求。
